روبرت جاي ماركس الثاني
مهندس من الولايات المتحدة الأمريكية
روبرت جاي ماركس الثاني (بالإنجليزية: Robert J. Marks II) هو مهندس أمريكي، ولد في 25 أغسطس 1950 في فيرجينيا الغربية في الولايات المتحدة.[1][2][3]
| روبرت جاي ماركس الثاني | |
|---|---|
.png) |
|
| معلومات شخصية | |
| الميلاد | 25 أغسطس 1950 (74 سنة) فيرجينيا الغربية |
| مواطنة |  الولايات المتحدة |
| عضو في | معهد مهندسي الكهرباء والإلكترونيات |
| الحياة العملية | |
| المهنة | مهندس |
| موظف في | جامعة واشنطن، وجامعة بايلور |
| الجوائز | |
تعديل مصدري - تعديل  | |
مراجع
عدل- ^ Matthew A. Prelee and David L. Neuhoff. "Multidimensional Manhattan Sampling and Reconstruction." IEEE Transactions on Information Theory 62, no. 5 (2016): 2772-2787.
- ^ Leon Cohen, Time Frequency Analysis: Theory and Applications, Prentice Hall, (1994)
- ^ J.L. Brown and S.D.Cabrera, "On well-posedness of the Papoulis generalized sampling expansion," IEEE Transactions on Circuits and Systems, May 1991 Volume: 38 , Issue 5, pp. 554–556
وصلات خارجية
عدل
في كومنز مواد ذات صلة بـ روبرت جاي ماركس الثاني.