تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة: الفرق بين النسختين

'''تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة''' {{إنج|Small angle X-ray scattering}} وتختصر التسمية إلى (SAXS) وهو تقنية {{وإو|تر=small-angle scattering|عر=تبعثر الأشعة السينية|نص=تبعثر للأشعة السينية}}، حيث يسجل التبعثر [[تصادم مرن|المرن]] [[أشعة سينية|للأشعة السينية]] (بأطوال موجات 0,1 ... 0,2 [[نانومتر]]) عند زوايا صغيرة للغاية (عادة بين 0,1 - 10°) إثر سقوطها على عينة غير متجانسة في المجال النانوي. يحتوي هذا المجال الزاوي على معلومات عن شكل وحجم [[جزيء ضخم|الجزيئات الضخمة]]، والمسافات الموصفة للمواد المرتبة جزئيا، وحجم الثقوب، ومعلومات أخرى. يمكن لهذه التقنية أن تعطينا معلومات بنيوية عن الجزيئات الضخمة (5-25 نانومتر) ذات المسافات المتكررة في النظم المرتبة جزئيا حتى 150 نانومتر<ref name=Glatter>{{cite book |editor=Glatter O, Kratky O |title=Small Angle X-ray Scattering |publisher=Academic Press |year=1982 |isbn=0-12-286280-5 |url=http://physchem.kfunigraz.ac.at/sm/Software.htm}}</ref>. أما تقنية "تعثر الأشعة السينية بزاوية فائقة الصغر" (USAXS) فيمكنها حل أبعاد أكبر.

 

 

تنبعث [[فوتون|الفوتونات]] فيها وتتبعثر بمرونة من العينة. ولا يجب أن تكون هذه العينة سميكة. يمكن [[سائل|للسوائل]] أن تختبر. كما يمكن متابعة الظواهر التي تحدث بمقياس [[نانومتر|النانومتر]].

ويمكن لهذا النوع من [[أشعة سينية|الأشعة السينية]] أن يحدث عندما تتفاعل فوتونات الأشعة السينية مع ذرات الجسم، وعند تصوير الأشعة السينية (تصوير إشعاعي). الإنحرافات الناتجة من مدى جودة الصورة تنتج من تقلييل مدى تباينها.