حيود الأشعة السينية: الفرق بين النسختين

[نسخة منشورة][نسخة منشورة]
تم حذف المحتوى تمت إضافة المحتوى
JarBot (نقاش | مساهمات)
ط بوت:إزالة تصنيف عام (3.8) إزالة تصنيف:أشعة سينية لوجود (تصنيف:دراسة البلورات بالأشعة السينية))
ط v2.03b - باستخدام ويكيبيديا:فو (مرجع قبل علامة الترقيم)
سطر 18:
 
== تقنيات حيود الأشعة السينية ==
يمكن إيجاد الشكل الهندسي للجزيء باستخدام الأشعة السينية. وتعتمد تقنيات حيود الأشعة السينية على التبعثر المرن للأشعة السينية من البنى التي تتصف بانتظام كاف. ويعطى أفضل وصف شامل للحيود من البلورات بنظرية الحركية للحيود.<ref>{{استشهاد بكتاب|الأخير=Azároff|الأول=L. V.| مؤلفين مشاركين=R. Kaplow, N. Kato, R. J. Weiss, A. J. C. Wilson, R. A. Young|عنوان=X-ray diffraction|سنة=1974|ناشر=McGraw-Hill}}</ref>.
* [[دراسة البلورات بالأشعة السينية]] هي تقنية تستخدم لإيجاد البنية الكاملة من للمواد البلورية، وتتفاوت من [[كيمياء عضوية|الأجسام غير العضوية]] البسيطة إلى ال[[جزيء ضخم|الجزيئات الضخمة]] مثل [[بروتين|البروتينات]].
* [[الحيود بالمسحوق]] (Powder diffraction) هي تقنية تستخدم لتوصيف البنية البلورية، وحجم البليرات أو الحبيبات البلورية، والتوجه في العينات الصلبة المسحوقة أو عديدة البلورات. يستخدم الحيود بالمسحوق عموما لتحديد المواد المجهولة، بمقارنة معطيات الحيود مع قاعدة البيانات الموجودة في [[المركز الدولي لبيانات الحيود]]. والحيود بالمسحوق هي أيضا طريقة لتحديد الإجهادات في المواد البلورية. ويمكن رؤية أحجام البليرات كتوسع في ذروات حيود الأشعة السينية كما يظهر من [[معادلة شيرر]].
سطر 29:
=== التبعثر المرن ===
يمكن دراسة المواد التي لا تتمتع بمدى كبير من الترتيب (شبه بلورية) باستخدام طرق التبعثر التي تعتمد على التبعثر المرن للأشعة السينية وحيدة اللون.
* [[تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة]] (Small angle X-ray scattering) (SAXS) يسبر البنية بمجال النانومتر إلى الميكرومتر وذلك بقياس شدة التبعثر عند زوايا تبعثر 2θ قريبة من 0°.<ref>{{استشهاد بكتاب|الأخير = Glatter|الأول=O. |مؤلفين مشاركين= O. Kratky|عنوان=Small Angle X-ray Scattering|سنة=1982|ناشر=Academic Press|مسار= http://physchem.kfunigraz.ac.at/sm/Software.htm|مسار أرشيف= https://web.archive.org/web/20150302173749/http://physchem.kfunigraz.ac.at:80/sm/Software.htm|تاريخ أرشيف=2015-03-02}}</ref>.
* [[انعكاسية الأشعة السينية]] هي تقنية تحليلة لتحديد سمك، وخشونة، وكثافة فيلم ذي طبقة وحيدة أو عديدة الطبقات.
* [[تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة]] (Wide angle X-ray scattering) (WAXS) هي تقنية تركز على زوايا التبعثر 2θ أكبر من 5°.