تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة: الفرق بين النسختين

لا يوجد ملخص تحرير
{{قيد الاستخدام}}
'''تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة''' {{إنج|Wide angle X-ray scattering WAXS}} هو تقنية من تقنيات [[حيود الأشعة السينية]] التي تستخدم غالبا لدراسة التركيب البلوري [[مكوثر|للمكوثرات]]. وتقوم هذه التقنية على تحليل [[ذرى براغ]] المبعثرة بزوايا كبيرة، والتي تنتج (وفقا ل[[قانون براغ]]) عن البنى الدقيقة ذات مقياس تحت النانومتر.
 
وتبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة هي نفس تقنية [[تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة]] وتختلف فقط بأن المسافة بين العينة واللاقط أقصر ويمكن بذلك ملاحظة الحيود عند زوايا أكبر.
 
The technique is a time-honored but a somewhat out-of-favor technique for the determination of degree of [[crystallinity]] of [[polymer]] samples. A diffraction technique for polycrystalline films where only crystallites diffract which are parallel to the substrate surface. The diffraction pattern generated allows to determine the chemical composition or phase composition of the film, the texture of the film (preferred alignment of crystallites), the crystallite size and presence of film stress. According to this method the sample is scanned in a wide angle X-ray [[goniometer]], and the scattering intensity is plotted as a function of the 2θ angle. X ray diffraction is a non destructive method of characterization of solid materials. When X-rays are directed in solids they will scatter in predictable patterns based upon the internal structure of the solid. A crystalline solid consists of regularly spaced atoms (electrons) that can be described by imaginary planes. The distance between these planes is called the [[d-spacing]]. The intensity of the d-space pattern is directly proportional to the number of electrons (atoms) that are found in the imaginary planes. Every crystalline solid will have a unique pattern of d-spacings (known as the powder pattern), which is a “finger print” for that solid. In fact solids with the same chemical composition but different phases can be identified by their pattern of d-spacings.
 
==اقرأ أيضا==
*[[دراسة البلورات بالأشعة السينية]] (X-ray crystallography)
*[[حيود الأشعة السينية]]
 
[[en:Wide angle X-ray scattering]]
19٬632

تعديل