تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة: الفرق بين النسختين

ط
إملائي
ط
ط (إملائي)
'''تشتت الزاوية الكبير للأشعة السينية''' "Wide angle X-ray scattering WAXS" هو تقنية لدراسة تشتت [[أشعة سينية|الأشعة السينية]] تستخدم غالبا لدراسة التركيب البللوري لل[[بوليمر]]ات. وهذه التقنية ترجع بالتحديد لتحليل [[قمم براج]] المتشتتة لزاويا كبيرة, والتىوالتي (طبقا ل[[قانون براج]]) عندما تحدث فإنها تكون بسبب التركيبات الدقيقة.
 
وهذا المصطلح غالبا ما يستخدم مع [[تشتت الزاوية الصغير للأشعة السينية]] لتحديد نوع التشتت.
 
{{بذرة علوم}}
 
[[en:Wide angle X-ray scattering]]
[[ko:광각 X선 산란]]
 
{{غير مصنفة|يوليو 2009}}
[[مستخدم:POP656|POP656]] ([[نقاش المستخدم:POP656|نقاش]]) 01:47، 15 يوليو 2009 (ت‌ع‌م)
 
[[en:Wide angle X-ray scattering]]
[[ko:광각 X선 산란]]
916٬418

تعديل