مجهر إلكتروني نافذ ماسح: الفرق بين النسختين

'''مجهر إلكتروني نافذ ماسح''' (بالإنجليزية:(scanning transmission electron microscope (STEM ) هو نوع من المجاهر الإلكترونية النافذة TEM حيث يتخلل الشعاع الإلكتروني العينة التي لا بد وأن تكون رقيقة جدا.<ref>{{cite journal|title=Superconducting Interfaces Between Insulating Oxides|journal=Science|year=2007|volume=317|issue=5842|pages=1196–1199|doi=10.1126/science.1146006 |last1=Reyren|first1=N.|last2=Thiel|first2=S.|last3=Caviglia|first3=A. D.|last4=Kourkoutis|first4=L. F.|last5=Hammerl|first5=G.|last6=Richter|first6=C.|last7=Schneider|first7=C. W.|last8=Kopp|first8=T.|last9=Ruetschi|first9=A.-S.|last10=Jaccard|first10=D.|last11=Gabay|first11=M.|last12=Muller|first12=D. A.|last13=Triscone|first13=J.-M.|last14=Mannhart|first14=J.|bibcode=2007Sci...317.1196R}}</ref><ref>{{cite journal|title= Imaging Atomic Rearrangements in Two-Dimensional Silica Glass: Watching Silica's Dance |journal=Science|year=2013|volume=342| issue=6155|pages=224–227|doi=10.1126/science.1242248|last1=Huang|first1=P. Y.|last2=Kurasch|first2=S.|last3=Alden|first3=J. S.|last4=Shekhawat|first4=A.|last5=Alemi|first5=A. A.|last6=McEuen|first6=P. L.|last7=Sethna|first7=J. P.|last8=Kaiser|first8=U.|last9=Muller|first9=D. A.|bibcode=2013Sci...342..224H}}</ref><ref>[http://www-g.eng.cam.ac.uk/125/achievements/mcmullan/mcm.htm D. McMullan, SEM 1928 – 1965]</ref> ويختلف المجهر الإلكتروني النافذ الماسح عن المجهر الإلكتروني النافذ المعتاد CTEM في أنه يركز فيض [[إلكترون|الإلكترونات]] على بقعة صغيرة من العينة ويصورها ثم ينتقل إلى بقعة أخرى حتى يصور جميع البقع المشكلة للعينة.