1٬059٬788
تعديل
تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة: الفرق بين النسختين
ط
بوت: وسوم صيانة، أضاف وسم بدون مصدر
(مكوثر إلى مكثور) |
ط (بوت: وسوم صيانة، أضاف وسم بدون مصدر) |
||
|
{{مصدر|تاريخ=فبراير 2016}}
'''تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة''' {{إنج|Wide angle X-ray scattering WAXS}} هو تقنية من تقنيات [[حيود الأشعة السينية]] التي تستخدم غالبا لدراسة التركيب البلوري [[مكثور|للمكثورات]]. وتقوم هذه التقنية على تحليل [[ذرى براغ]] المبعثرة بزوايا كبيرة، والتي تنتج (وفقا ل[[قانون براغ]]) عن البنى الدقيقة ذات مقياس تحت النانومتر.
وتبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة هي نفس تقنية [[تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة]] وتختلف فقط بأن المسافة بين العينة واللاقط أقصر ويمكن بذلك ملاحظة الحيود عند زوايا أكبر.
== اقرأ أيضا ==
| |||