تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة: الفرق بين النسختين

مكوثر إلى مكثور
ط (بوت: ترحيل 2 وصلة إنترويكي, موجودة الآن في ويكي بيانات على d:q4165437)
(مكوثر إلى مكثور)
'''تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة''' {{إنج|Wide angle X-ray scattering WAXS}} هو تقنية من تقنيات [[حيود الأشعة السينية]] التي تستخدم غالبا لدراسة التركيب البلوري [[مكوثرمكثور|للمكوثراتللمكثورات]]. وتقوم هذه التقنية على تحليل [[ذرى براغ]] المبعثرة بزوايا كبيرة، والتي تنتج (وفقا ل[[قانون براغ]]) عن البنى الدقيقة ذات مقياس تحت النانومتر.
 
وتبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة هي نفس تقنية [[تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة]] وتختلف فقط بأن المسافة بين العينة واللاقط أقصر ويمكن بذلك ملاحظة الحيود عند زوايا أكبر.
19٬632

تعديل