انبعاث ثانوي

الانبعاث الثانوي[1] أو الابتعاث الثانوي[2]<ref>ترجمة Secondary emission حسب بنك باسم للمصطلحات العلمية؛ مدينة الملك عبد العزيز للعلوم والتقنية، تاريخ الوصول: 05 02 2017.] في الصمامات المفرغة خصوصا. فعند سقوط جسيم ما على مادة محكومة بهذه الظاهرة، فإنه يحض جسيمات أخرى على الانبعاث, يسمى الجسيم الساقط بالجسيم الابتدائي، و يسمى الجسيم المنبعث بالجسيم الثانوي. قد يكون الجسيم الابتدائي إما إلكترونا أو أيونا أو أشعة سين أو أشعة غاما. أما الجسيم الثانوي فيمكن أن يكون:

المبدأعدل

لو أخذنا الإلكترون كمثال، فحين يسقط على المادة بسرعة كبيرة فإنه سيخترق الذرة و يدخل المدار الإلكتروني الخاص بالذرة، و بما أن سرعته كبيرة فلن تتمكن النواة الموجبة من جذبه رغم أن شحنته سالبة، لكن و أثناء عبوره المدار ذا الإلكترونات السالبة فإنه سيتنافر معها بسبب تشابه الشحنات. قد تنجم تلك المنافرة عن تحرير عدد من إلكترونات المدار و جعلها تسبح (تبنعث) لكن ببطء. لحصول ذلك ينبغي أن تكون طاقة الإلكترون الساقط كافية لتحرير الإلكترونات. تدعى تلك الإلكترونات البطيئة إلكترونات ثانوية.

و و قد يسقط الإلكترون على المادة بطاقة كافية، و لكن لا يصادف إلكترونات أثناء اجتيازه المدار الإلكتروني، بل قد توثر قوة جذب النواة على اتجاه الإلكترون، جاعلة يدور حولها و يرتد على منبعه دون أن يحرر أي يحرر أي الكترون. يدعى هذا الإلكترون بـ الكترون مرتد أو الكترون ناكص (بالإنجليزية: back-scattered electron)‏. كلما ازداد حجم النواة، ازداد رجيع الإلكترونات.

التطبيقاتعدل

تم توظيف هذه الظاهرة في تضخيم الضوء في جهاز صمام التضخيم الضوئي, حيث يكون الجسيم الابتدائي هو الألكترون و الجسيم الثانوي هو الإلكترون كذلك و الوسط بينهما قطب كهربائي معدني (داينود).

و وظفت كذلك في التصوير في المجاهر الإلكترونية المسحية, حيث يتم رش عينة الفحص بمادة تمتلك خاصية الانبعاث الثانوي قبل فحصها، و من ثم تسليط إلكترونات عليها و اصطياد الإلكترونات المنبعثة منها بواسطة شاشة فلورية.

و وظفت أيضا في مطيافية الكتلة بما يعرف بـ مطيافية الأيون الثانوي للكتلة.

مراجععدل

  1. ^ ترجمة Secondary emission حسب بنك باسم للمصطلحات العلمية؛ مدينة الملك عبد العزيز للعلوم والتقنية، تاريخ الوصول: 05 02 2017.
  2. ^ قاموس المورد، البعلبكي، بيروت، لبنان.